1.    Rodzaj studiów:

Dzienne magisterskie

2.    Kierunek:

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA

3.    Specjalność:

siatka podstawowa

4.    Tytuł przedmiotu:

KRYSTALOGRAFIA

5.    Blok tematyczny (wg siatki):

PODSTAWY INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

6.    Semestr, wymiar godz. (W, L, C, P, K, S):

II, W-1 godziny, C-1godzina

7.    Warunki zaliczenia przedmiotu:

egzamin +zaliczenie ćwiczeń

8.    Treść merytoryczna przedmiotu:

 

A. WYKŁADY

 

Temat:

Godz.

1.     

Podstawowe informacje o budowie ciała stałego - stan krystaliczny lub amorficzny, charakterystyka wiązań atomowych

2

2.     

Klasyfikacja sieci przestrzennej - czternaście sieci Bravais'a+

2

3.     

Charakterystyka elementarnych komurek sieciowych - A1, A2 oraz A3

2

4.     

Zasady oznaczania prostych i płaszczyzn sieciowych - wskaźniki Mullera

2

5.     

Systemy poślizgu w kryształach metali

2

6.     

Sieć odwrotna i jej właściwości

2

7.     

Defekty sieci krystalicznej

2

8.     

Rzeczywista budowa ciał krystalicznych

1

 

RAZEM:

15

 B. LABORATORIA

 

Temat:

Godz.

1.     

Charakterystyka elementarnych komórek sieciowych

4

2.     

Wskaźnikowanie kierunków krystalograficznych - wskaźniki Mullera

2

3.     

Wskaźnikowanie płaszczyzn sieciowych - wskaźniki Mullera

2

4.     

Wskaźniki Mullera - Bravaisa

2

5.     

Obliczanie wielkości luk

2

6.     

Elementy rzeczywistej budowy ciał krystalicznych ze szczególnym uwzględnieniem metali

3

 

RAZEM:

15

  

 9. Osoba odpowiedzialna za przedmiot:

dr inż. Janusz Lisak

10. Jednostka organizacyjna:

M-2 ZAKŁAD METALOZNAWSTWA

11. Sugestie dot. wyboru innych przedmiotów:

    

12. Pomoce dydaktyczne:

B. D. Cullity - Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, PWN warszawa 1964.

A. Kelly, G. W. Groves - Krystalografia i defekty kryształów , PWN Warszawa 1980

M. Meerssche, J. Fenean - Dupont - Krystalografia i chemia strukturalna, PWN Warszawa 1984